Cu₂ZnSnS₄ (CZTS) İnce Filminin Elektrokimyasal Olarak Büyütülmesi ve Karakterizasyonu

Authors : Seniye Yüksel, Mustafa Serkan Soylu, Cevdet Coşkun

Pages : 878-885

Doi:10.53501/rteufemud.1798707

View : 54 | Download : 95

Publication Date : 2025-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada, oda sıcaklığında potansiyostatik modda elektrokimyasal çöktürme yöntemiyle indiyum kalay oksit (İTO) cam atlık üzerine büyütülen kesterit yapılı Cu₂ZnSnS₄ (CZTS) ince filminin yapısal ve morfolojik karakteristikleri incelenmiştir. Bu CZTS filmin sentezinde, öncül çözelti içinde kompleksleyici ajan olarak tri-sodyum sitrat ve tartarik asit kullanılmıştır. Çöktürülen CZTS ince film, sülfür tozu varlığında azot atmosferinde 550 °C’de 30 dakika süreyle tavlanmıştır. Elde edilen CZTS ince filminin yapısal ve morfolojik özellikleri sırasıyla X-ışını kırınımı (XRD), Raman Spektroskopisi, Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ve Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) yöntemleri kullanılarak araştırılmıştır. X-ışını kırınımı (XRD) analizi, elde edilen CZTS ince filminin (112), (200), (211), (220) ve (312) ve karakteristik yansımalarıyla kesterit fazına karşılık gelen kristal yapıya sahip olduğunu doğrulamıştır. Raman spektroskopisi, CZTS fazına özgü 331 cm⁻¹ civarında belirgin bir pikin ortaya çıktığını göstermiştir. Yüzey morfolojisi incelemeleri, tüm yüzeye homojen biçimde yayılmış ancak yer yer heterojen mikro yapılar gösteren sürekli bir film oluşumunu göstermiştir.
Keywords : CZTS, XRD, AFM, SEM, Raman Spektroskopisi

ORIGINAL ARTICLE URL