Structural and optical properties of Cu2SnS3 thin films obtained by SILAR method

Authors : AYKUT ASTAM

Pages : 505-510

Doi:10.16984/saufenbilder.289305

View : 23 | Download : 11

Publication Date : 2017-06-01

Article Type : Research Paper

Abstract :  Bakır kalay sülfür insert ignore into journalissuearticles values(Cu 2 SnS 3 ); ince filmler, cam altlıklar üzerine sıralı iyonik tabaka adsorpsiyonu ve reaksiyonu insert ignore into journalissuearticles values(SILAR); yöntemi kullanılarak, oda sıcaklığında elde edilen filmlerin 350 ° C’de 1 saat süre ile sülfür atmosferinde tavlanması neticesinde büyütüldü. Filmlerin yapısal ve optik özellikleri, tavlama öncesi ve sonrası, X-ışını difraksiyonu insert ignore into journalissuearticles values(XRD);, taramalı elektron mikroskobu insert ignore into journalissuearticles values(SEM);, enerji ayırımlı X-ışını analizi insert ignore into journalissuearticles values(EDAX); ve optik soğurma ölçümleri kullanılarak incelendi. XRD sonuçları, tavlama işleminin filmlerin kristal yapısını amorfdan polikristale dönüştürdüğünü gösterdi. Elde edilen SEM görüntülerinden tavlamayla filmlerin yüzey morfolojisinin değiştiği, EDAX sonuçlarından ise filmlerde tavlama işlemi öncesi ve sonrası bakır fazlalığının olduğu belirlendi. Yapılan optik soğurma ölçümlerinden filmlerin direk yasak enerji aralığının tavlamayla, 1.27 eV değerinden 1.21 eV değerine azaldığı gözlendi.
Keywords : Cu2SnS3, SILAR, ince film