The comparison of the methods used for determining of Schottky diode parameters in a wide temperature range

Authors : Durmuş Ali ALDEMİR, Ali KÖKCE, Ahmet Faruk ÖZDEMİR

Pages : 1286-1292

Doi:10.16984/saufenbilder.279996

View : 23 | Download : 11

Publication Date : 2017-12-01

Article Type : Research Paper

Abstract :50 nm Schottky kontak kalınlığına sahip Ni/ n -GaAs Schottky diyotlarının akım-gerilim insert ignore into journalissuearticles values(I-V); verileri 60 K’den 320 K’e kadar olan geniş bir sıcaklık aralığında ölçüldü. Ni/ n -GaAs Schottky diyotlarının önemli kontak parametreleri geleneksel I - V metodu, Norde metodu, genelleştirilmiş Norde metodu ve Cheung fonksiyonları kullanılarak her bir sıcaklık değeri için ayrı ayrı elde edildi. Daha sonra sonuçlar birbirleriyle kıyaslandı.
Keywords : Schottky Diyot, Geleneksel I V metot, Cheung metot, Norde Metot, Genelleştirilmiş Norde Metot, Sıcaklık Bağlılığı