Investigation of structural, optical and morphological properties of undoped and Zn doped CdO semiconductor thin films grown by SILAR method

Authors : Harun GÜNEY, Demet İSKENDEROĞLU

Pages : 1544-1549

Doi:10.16984/saufenbilder.312291

View : 20 | Download : 11

Publication Date : 2017-12-01

Article Type : Research Paper

Abstract :Yapılan çalışmada SILAR yöntemi ile oda sıcaklığında katkısız ve farklı oranlarda Zn katkılı CdO yarıiletken ince filmlerinin büyütülebildiği gösterilmiştir. Numunelerde Zn katkısının yapısal, optik ve morfolojik özelliklere nasıl etki ettiğinin gözlemlenebilmesi için numunelerin XRD, soğurma ve SEM ölçümleri alınmıştır. XRD ölçümleri ile numunelerin kübik yapıda ve 33° ve insert ignore into journalissuearticles values(111);, 38° ve insert ignore into journalissuearticles values(200);, 55° ve insert ignore into journalissuearticles values(220);, 66° ve insert ignore into journalissuearticles values(311);, 69° ve insert ignore into journalissuearticles values(222); derece ve düzlemlerde kristal yapıya sahip olduğu gözlenmiştir. Soğurma ölçümleri ile hesaplanan direkt band aralıklarının CdO yapısı içerisinde Zn katkısı ile önce azaldığı ve sonrasında Zn katkı oranına bağlı olarak arttığı gözlenmiştir. Alınan SEM ölçümleri ile katkısız ve Zn katkılı CdO yüzey morfolojisinin Zn katkısı ile değişim sergilediği gözlenmiştir.
Keywords : Zn katkılı CdO, SILAR, yarıiletken, ince film