Ar-Ge Harcaması, Patent ve Ekonomik Büyüme Bağlantısı: ABD ve Japonya Üzerine Karşılaştırmalı Bir Çalışma

Authors : Aziz DAYANIR, Burhan DURĞUN, Funda DURGUN

Pages : 72-80

View : 23 | Download : 14

Publication Date : 2021-12-30

Article Type : Research Paper

Abstract :Çalışma, 1985-2018 yıllarını kapsayan yıllık zaman serisi verilerini kullanarak araştırma ve geliştirmeye yapılan gayri safi harcamaları, üçlü patent sayıları ve gayri safi yurtiçi hasıla arasındaki ilişkileri incelemektedir. Bu verilerin hepsi nüfus sayısına bölünmüş daha sonra doğal logaritmaları alınmıştır. Çalışmada ABD ve Japonya karşılaştırmalı olarak incelenmektedir. Yüksek gelirli ülkeler olması sebebiyle bu iki ülke tercih edilmiştir. Çalışmada ARDL eşbütünleşme testi ve Toda-Yamamoto nedensellik testinden yararlanılmıştır. ARDL test sonuçlarına göre ABD için değişkenler arasında uzun dönem ilişkisi mevcutken Japonya için uzun dönem ilişkisi bulunmamaktadır. Toda-Yamamoto nedensellik testinin sonuçlarına göre ABD için gayri safi yurtiçi hasıladan Ar-Ge harcamalarına ve gayri safi yurtiçi hasıladan patent sayısına nedensellik olduğu sonucuna ulaşılmıştır. Japonya için ise gayri safi yurtiçi hasıladan Ar-Ge harcamalarına, patent sayısından Ar-Ge harcamalarına ve gayri safi yurtiçi hasıladan patent sayısına nedensellik olduğu sonucuna ulaşılmıştır.
Keywords : Ar Ge, Ekonomik Büyüme, Patent, ARDL Sınır Testi, Toda Yamamoto Nedensellik Testi