Modifiye Hummers Yöntemi ile Elde Edilen Grafen Oksit Sentezleri İçin: Kısım 1, X Işını Difraksiyonu Analizi

Authors : Ömer LAÇİN, Bünyamin DÖNMEZ

Pages : 968-971

Doi:10.31590/ejosat.1012346

View : 16 | Download : 18

Publication Date : 2021-11-30

Article Type : Research Paper

Abstract :Grafen Oksit, 2 boyutlu ve oksijen içeren fonksiyonel grupların yer aldığı karbon esaslı bir malzemedir. Son yıllarda grafen oksit esaslı malzemeler, bilim adamları tarafından çok büyük bir ilgi görmektedir. Grafen oksidin özellikleri; morfolojisine, doğasına ve reaksiyon şartlarına bağlı olmasından dolayı farklı şartlarda sentezlenen grafen oksidin özellikleri de farklı olmaktadır. Dolayısıyla literatüre giren her bir grafen oksit sentez çalışmasının önemli bir katkı sağlayabileceği düşünülmektedir. Bu çalışmada, Hummers yönteminde kullanılan sodyum nitrat konsantrasyonu değiştirilerek elde edilen sentezlerin başarılı bir şekilde grafen oksite dönüşüp dönüşmediği ve değişen yapısal özellikleri X ray Difraksiyonu analizi ile incelenmiştir. Analiz sonuçlarından hegzagonal grafit kristalinde; 2θ:26,53°'ye ait karakteristik keskin pikin, kimyasal oksidasyon sonrası kaybolup 2θ:11,53°’de yeni bir pikin oluştuğu, d tabaka aralığının 0,34 nm'den 0,77 nm'ye genişlediği, kristal çapın 34,56 nm’den ortalama 7,22 nm’ye azaldığı ve tabaka sayısının 102’den 9’a düştüğü belirlenmiştir. Sonuç olarak bu şartlarda elde edilen sentezlerin, farklı özelliklere sahip grafen oksit örnekleri olduğu ve literatür ile uyum içerisinde oldukları söylenebilir.
Keywords : Grafit, Grafen oksit, Hummers Yöntemi, Nanomalzeme, X Ray Difraksiyonu