Baskı Devrelerde Dönüş Yolu Üzerindeki Süreksizliklerden Kaynaklanan Elektromanyetik Girişimin Nümerik Analizi ve Deneysel Doğrulanması

Authors : Seyit Ahmet SİS, Ekrem DEMİREL, Mücahid Taha MERSİN, Fatih ÜSTÜNER

Pages : 15-21

View : 17 | Download : 7

Publication Date : 2020-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Toprak düzlemdeki bir yarığı dik kesen bir mikroşerit yolun iyi bir elektromanyetik ışıyıcı olduğu bilinen bir durumdur. Buna karşılık, toprak düzlemdeki yarıklar, baskı devre kartları insert ignore into journalissuearticles values(PCB); üzerindeki farklı devreler arasındaki gürültüyü izole etmek için kullanılan elzem yapılardır. Bu nedenle, PCB tasarımcılarını yarıklar üzerine konulan, dikiş kapasitörü diye adlandırılan kapasitörler kullanılarak bu ışımaları azaltmanın pratik yolları üzerine eğitilmelidirler. Bu bildiride, toprak düzlemdeki bir yarığı dik kesen mikroşerit iletim hattı elektromanyetik ışıma açısından tam-dalga simülatörlerde incelenmekte ve dikiş kapasitörünün ışıma üzerine etkisi analiz edilmektedir. Simulasyon sonuçları, yankısız oda içerisinde yapılan ölçüm sonuçlarıyla teyid edilmektedir.
Keywords : Elektromanyetik girişim, PCBlerde EMC, dönüş yolu süreksizliği