DETERMINATION OF LEVELNESS-UNLEVELNESS INDEX USING SCANNER DATA

Authors : Tayebe SOLEYMANIAN, Seyed Hossien AMIRSHAHI, Mansoureh GHANBAR

Pages : 40-46

Doi:10.7216/130075992012198509

View : 13 | Download : 9

Publication Date : 2012-03-01

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalýþmada, deðiþik derecelerde ve desenlerde faklýlýklara sahip kumaþlarýn düzgünsüzlüðünü deðerlendirmek için iki yeni kriter önerilmiþtir. Bu amaçla kumaþlarýn tarayýcý ile görüntülenmesi sonucu elde edilen verilerin analizi kullanýlmýþtýr. Türetilmiþ görüntülerin matrislerinin temel istatistiksel özellikleri, örneðin tekil deðer ayrýþtýrma tekniði ile çýkartýlmýþ tekil deðerler ve iki boyutlu standart sapmalar, düzgünsüzlük indeksi olarak tanýmlanmýþlardýr. Sonuçlar, hem gözlemcilerin görsel deðerlendirme raporlarý hem de örneklerin spektrofotometre ile elde edilen yansýma tayflarýndan hesaplanan spektral K/S deðerlerini veren kantitatif metot çýktýlarý ile karþýlaþtýrýlmýþtýr. 
Keywords : Düzgünsüzlük, tarayýcý, tekil deðer ayrýþtýrma, iki boyutlu standart sapma