Kimyasal Püskürtme Tekniği ile Üretilen PbS İnce Filmin Karakterizasyonu

Home Page
About
Submit A Journal
Submit A Conference
Submit Paper/Book
- Submit a Preprint
- Submit a Book
Contact

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
Volume:8 Issue:2
Kimyasal Püskürtme Tekniği ile Üretilen PbS İnce Filmin Karakterizasyonu

Kimyasal Püskürtme Tekniği ile Üretilen PbS İnce Filmin Karakterizasyonu

Pages : 770-777

View : 32 | Download : 14

Publication Date : 2021-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada, kurşun sülfür (PbS) filmler, kolay ve ekonomik bir yöntem olan ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile 370±5 °C taban sıcaklığında mikroskop cam üzerine kaplanmıştır. Farklı molariteli Pb katkısı ile elde edilen PbS filmlerin, yapısal, yüzeysel, optik ve elektriksel özellikleri üzerindeki etkisi incelendi. Optik, yapısal, yüzeysel ve elektriksel özellikleri, UV spektrofotometre, taramalı elektron mikroskobu, Atomik kuvvet mikroskobu ve X-ışını spektroskopisi analizi kullanılarak karakterize edildi. X-ışınları kırınımı (XRD) analizinden PbS ince filminin hekzagonal yapıya sahip olduğu bulundu. Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ölçümlerinden PbS ince filminin pürüzlülükleri belirlendi. Optik soğurma spektrumundan PbS ince filminin 1.69-1.89 eV’luk dar optik bant aralığına sahip olduğu belirlendi. Üretilen filmlerin kalınlık değerleri ise spektroskopik elipsometre tekniğinde Cauchy-Urbach modeli kullanılarak belirlendi. PbS filmlerinin fotovoltaik güneş pili uygulamaları için kullanım potansiyeli araştırılmıştır.
Keywords : Kurşun Sülfür PbS, Kimyasal Püskürtme Yöntemi, İnce Film

ORIGINAL ARTICLE URL

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.