X-IŞINI GÖRÜNTÜLEMEDE YARIİLETKEN DEDEKTÖRLERİN KULLANILMASI

X-ışını görüntülemede çeşitli dedektörler kullanılmaktadır. Bunlar sintilasyon ve yarı iletken dedektörler olarak sınıflandırılabilir. Bu çalışmada özellikle anjiografide halen kullanılan CsI tipi sintilasyon dedektörlerle, CdTe tipi yarıiletken dedektörler karşılaştırılmıştır. Öncelikle bu dedektörler bilgisayarda simüle edilmiş ve xışını simülasyon programıyla incelenmiş ve anjiografide kullanılan iki farklı tüp uygulama tekniği ile deneyler yapılmıştır. Bu teknikte tüpe önce alçak voltaj (60 kVp) uygulanmakta ve bu anda tüpün önünde karakteristik filtre olarak sadece bakır levha bulunmaktadır. Daha sonra tüpe daha yüksek gerilim uygulanması (120 kVp) esnasında tüp önüne filtre olarak ise bakır + alüminyum levhalar konulmuştur. Buradan alınan farklı spektrumlar değerlendirilerek görüntü oluşturulmaktadır. Bu deneyler tüpe uygulanan voltajların değişik değerleri için ve tüpün önüne konulan karakteristik filtrelerin çeşitli değerleri için bir çok kez tekrarlanmıştır. Bütün bu deneylerin sonucu halen kullanılmakta olan CsI dedektörlerine göre, CdTe tipi yarı iletken dedektörlerde sinyal gürültü oranı (SNR) yaklaşık 10 kat daha büyük çıkmaktadır. Bu sonuçlara bakılarak gelecekte x-ışını görüntülemede özellikle düşük enerjilerde CdTe tipi dedektörlerin yaygın kullanılacağı söylenebilir.