XRF, FT-IR Spektroskopik Yöntemleri ve SEM Yöntemi Kullanılarak Üç Dental Kompozit Örneklerin İncelenmesi

Authors : Ünal ŞAHİNCİ, Sema ÖZTÜRK YILDIRIM

Pages : 1010-1017

View : 15 | Download : 11

Publication Date : 2018-09-15

Article Type : Research Paper

Abstract :Günümüzde doğal dişin görünümünü taklit edebilen ve estetik olması nedeniyle dental kompozitlerin dental restorasyon malzemesi olarak kullanımı oldukça yaygındır. Bu çalışmada diş hekimlerinin çoğunlukla kullandığı üç farklı dental kompozit rezinin örneklerinin yapısal parametrelerinin tespiti spektroskopik analiz yöntemleri kullanılarak yapılmıştır. X-Işını Floresans Spektrometresi (XRF), Fourier Dönüşümlü Infrared Spektrofotometresi (FT-IR) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) yöntemi ile yapılan element analizlerinde rezin örneklerinin yapısında bulunan bileşikler ve elementler tespit edilmiştir. Bileşikler 6-heptenoik asit, 2-metilbütirik asit, etilen oksit, propiyonik asit, 5-metil 3-heksanon, linoleik asit, 1-naftalenasetik asit, 4-hidroksi 4-metil 2-pentanon, trikloroasetonitril, benzil etil keton, 3-mercaptopropionik asit, oleik asit, 4-metil 2-pentanon, erüsik asit, deoksikolik asit ’dir. Elemetler ise Si, Zr, Hf, Na, Al, Ca, S, Ti, Fe, K, Y, Ba, P, Cl, Sr, F, Zn’dir.  Fiziksel olarak yapılan basma çekme testi sonucunda örneklerin maksimum gerilme, elastik uzama, maksimum kuvvet aralığı ve maksimum yüzde uzama miktarları: 10982.9-12867.1N/mm 2 ; 0,00827-0.05214mm; 6987.00-13650.2N ve 77.4643-160.420 olarak tespit edilmiştir.
Keywords : Dental Kompozit, XRF, FT IR, SEM