THE STRUCTURAL, SURFACE MORPHOLOGY, OPTICAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF ZnO FILM DOPED GALLIUM AT 10%

Authors : H Senem Aydoğu, Seda UZKALAN

Pages : 108-124

View : 16 | Download : 16

Publication Date : 2019-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Saf ve %10 galyum (Ga) katkılı çinko oksit (ZnO) filmlerinin ultrasonik sprey piroliz tekniğiyle cam tabanlar üzerine sentezlendi. Saf ve katkılı filmlerin yapısal, yüzey morfolojisi, optik ve elektriksel özellikleri X–ışını kırınım (XRD) örneği, atomik kuvvet mikroskopisi (AFM), ultraviyole ve görünür ışık (UV–Vis) spektrofotometresi ve dört prob tekniği ile analizlendi; sırasıyla. XRD sonuçlarından %10 Ga katkılanmasıyla tercihli yönelimin (100) dan (002) ye değiştiği gözlendi. Ayrıca, hem Scherrer Metodu hem de Williamson–Hall (W–H) Metodu ile hesaplanan filmlerin tanecik boyutu ve gerilim değerleri karşılaştırıldı. Bu karşılaştırmanın sonucunda, Scherrer Metoduyla hesaplanan değerler W–H Metodu ile hesaplanan değerlerden daha küçük bulundu. Tüm deneysel sonuçları, galyum katkısıyla Urbach enerjisi azalırken, tanecik boyutunun, yüzey pürüzlülüğünün, enerji band aralığının ve elektrik iletkenliğinin arttığını göstermiştir. Sonuç olarak, ZnO filminin kristalliği %10 Ga katkısıyla geliştiği gözlenmiştir.
Keywords : Ultrasonik sprey piroliz, Williamson Hall Metodu, optik özellikler, Urbach enerjisi