Çözelti Konsantrasyonu ve Kalınlığın SILAR Tekniği ile Büyütülen CuO İnce Filmi Üzerine Etkisi

Authors : Tuba ÇAYIR TAŞDEMİRCİ

Pages : 171-180

Doi:10.18185/erzifbed.629161

View : 14 | Download : 9

Publication Date : 2020-03-20

Article Type : Research Paper

Abstract :SILAR tekniği ile ince film büyütmek diğer kimyasal tekniklerle mukayese edildiğinde; daha çekici, daha ucuz, daha basit ve az zaman harcanmasından dolayı daha çok tercih edilmektedir. Bu tekniğin en önemli avantajı, büyüme boyunca zaman, kalınlık, daldırma sayısı, çözelti konsantrasyonu, sıcaklık ve çözelti pH’sı gibi bazı parametrelerin kolay kontrol edilebilir olmasıdır. Bu çalışmada çözelti konsantrasyonu ele alınarak CuO ince filmleri farklı çözelti konsantrasyonlarında ve farklı daldırma sayılarında SILAR tekniği kullanılarak cam yüzey üzerine büyütülmüştür. Elde edilen CuO ince filmlerin yapısal ve optiksel özelliklerinde çözelti konsantrasyonu ve daldırma sayısına göre meydana gelen değişiklikler incelenmiştir. Yapısal analizler için X-Işını difraksiyon (XRD), Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), Taramalı Elektron mikroskobu (SEM) ve Enerji dağılımlı X-Işını spektrometresi (EDAX), optiksel analizler için UV-Vis spektrometresi kullanılmıştır. XRD verileri filmlerin nano boyutta kristalize olduklarını ve kristallenme kalitesinin çözelti konsantrasyonuna bağlı olarak değiştiğini açığa çıkarmıştır.  
Keywords : CuO, İnce film, XRD, SEM, SILAR