Structural, Surface and Optical Characterization of ZnO Thin Films Deposited by SILAR and Spin-Coating Methods

Bu çalışmada, ZnO ince filmler sırasıyla insert ignore into journalissuearticles values(1 1 1); yönelimli n-tipi ve insert ignore into journalissuearticles values(1 0 0); yönelimli p-tipi Si altlıklar üzerine SILAR ve dönel kaplama insert ignore into journalissuearticles values(spin-coating); yöntemleri kullanılarak büyütülmüştür. Numunelerin XRD, SEM ve PL ölçümleri alınmıştır. XRD sonuçları, ZnO piklerinin varlığını göstermiştir. SEM sonuçları, yüzeylerin her iki yöntemde de homojen olduğunu ve SILAR yöntemiyle büyütülen örneklerde nano çubukların bulunduğunu göstermiştir. PL sonuçları, numunelerin farklı dalga boylarında ışık yaydığını göstermiştir. Örneklerden farklı güçler altında PL ölçümleri alınmış ve yorumlanmış ve bir örneğin artan uyartım gücü ile daha yüksek bir emisyon yoğunluğuna ulaştığı tespit edilmiştir.