Yanıt yüzey metodu kullanarak mikrodalga ile elma kurutmanın optimizasyonu

Home Page
About
Submit A Journal
Submit A Conference
Submit Paper/Book
- Submit a Preprint
- Submit a Book
Contact

Gazi Üniversitesi Mühendislik Mimarlık Fakültesi Dergisi
Volume:34 Issue:3
Yanıt yüzey metodu kullanarak mikrodalga ile elma kurutmanın optimizasyonu

Yanıt yüzey metodu kullanarak mikrodalga ile elma kurutmanın optimizasyonu

Pages : 1365-1376

View : 46 | Download : 15

Publication Date : 2019-05-29

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada elma dilimlerinin mikrodalga ile kurutulması üzerine mikrodalga çıkış gücü ve dilim kalınlığının etkileri yanıt yüzey metodu (YYM) kullanılarak modifiye edilmiş ev tipi bir mikrodalga fırında incelendi. Deneysel tasarım için dönebilen merkezi kompozit deney tasarım (CCRD) yaklaşımı kullanıldı. Tasarım koşullarında gerçekleştirilen deneylerden etkin difüzyon katsayısı, kuruma hız sabiti, renk değişimi, Hue açısı, toplam kuruma süresi ve enerji tüketimi yanıt değişkenlerinin değerleri belirlendi. Elde edilen ikinci derece polinom denklemlerinin yanıt değişkenlerini temsil etmede başarılı oldukları görüldü. Varyans analizi (ANOVA) sonuçları ve yanıt yüzey eğrilerinden yanıt değişkenleri üzerinde mikrodalga çıkış gücü ve dilim kalınlığının önemli düzeyde etkili oldukları tespit edildi. Bağımsız değişkenlerin yanıtlar üzerindeki etkileri ve anlamlılık düzeyleri istatistiki olarak değerlendirildi ve en az renk değişimi, en kısa kuruma süresi, en az enerji tüketimi ve en yüksek Hue açısı için optimum çalışma şartları belirlendi. Optimum deney koşullarında en fazla % 9.54 hata ile doğrulama deneyleri gerçekleştirildi. Mikrodalga ile elma kurutmada yanıt yüzey metodunun başarılı bir şekilde uygulanabildiği görüldü.
Keywords : Yanıt yüzey metodu, mikrodalga kurutma, optimizasyon, elma

ORIGINAL ARTICLE URL

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.