Düşük Tellür Katkılı CuInGaSe2 İnce Filmlerin Yapısal Özelliklerinin İncelenmesi

Home Page
About
Submit A Journal
Submit A Conference
Submit Paper/Book
- Submit a Preprint
- Submit a Book
Contact

Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
Volume:9 Issue:4
Düşük Tellür Katkılı CuInGaSe2 İnce Filmlerin Yapısal Özelliklerinin İncelenmesi

Düşük Tellür Katkılı CuInGaSe2 İnce Filmlerin Yapısal Özelliklerinin İncelenmesi

Pages : 2088-2096

View : 101 | Download : 8

Publication Date : 2019-12-01

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada Cu(In,Ga)(Se1-yTey)2 ince filmleri, külçe formundaki yapının elektron demeti ile buharlaştırılıp yüksek sıcaklıkta tavlanması ile elde edildi. Örneklerin X-ışını kırınım desenleri (XRD), Raman spektrumları, yüzey görüntüleri ile atomik konsantrasyon ölçümleri alınarak katkısız ve düşük Te katkılı örneklerin yapısal özellikleri ayrıntılı olarak incelenerek karşılaştırıldı. XRD desenlerinde, katkısız CIGS ince filminde, Cu(In,Ga)Se2 ve CuIn3Se5 gibi bir faz ayrışımının ortaya çıktığı, Te katkısı ile beraber faz ayrışımının ortadan kalktığı görüldü. Örneklere ait A1 Raman modlarının deneysel değerleri, teorik bir yaklaşımla elde edilen değerler ile karşılaştırıldı. Yüzey fotoğrafları incelendiğinde, Te katkısı ile beraber film yüzeyinin daha düzgün (uniform) hale geldiği ve tanelerin mikron-altı boyutlarında oluştuğu görüldü. Benzer şekilde, yapıdaki kompozisyon profilinin iyileştiği (Ga miktarının arttığı) ve hedeflenen miktarda Te’ün neredeyse yapıya girdiği görüldü.
Keywords : Bakır, İndiyum, Galyum, Selenyum, Tellür, ince film, kalkopirit kristal yapısı, CIGST

ORIGINAL ARTICLE URL

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.