Çok Değişkenlik Kaynaklı Rasch Ölçme Modeli ve Hiyerarşik Puanlayıcı Modeli İle Kestirilen Puanlayıcı Parametrelerinin Karşılaştırılmas

Authors : Müge ULUMAN, Ezel TAVŞANCIL

Pages : 777-798

Doi:10.15869/itobiad.296489

View : 19 | Download : 12

Publication Date : 2017-04-25

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu araştırmada, açık uçlu maddelere ilişkin, aynı sınananlar tarafından verilen yanıtların, birden fazla puanlayıcı tarafından puanlanması durumunda, çok değişkenlik kaynaklı Rasch ölçme modeli (ÇDKRÖM) ve hiyerarşik puanlayıcı modeli (HPM) ile puanlayıcı katılık/cömertlik ve değişkenlik parametrelerinin kestirilmesi ve her iki modele ilişkin parametrelerin birlikte değerlendirilmesi amaçlanmıştır. Temel araştırma modelindeki araştırmanın verileri, 2012-2013 eğitim-öğretim yılı ikinci döneminde Ankara ili Çankaya ilçesinde yer alan, 10 okulda öğrenim gören, 15 yaş grubu 380 öğrencinin sekiz açık uçlu maddeye verdikleri yanıtlara beş ortaöğretim matematik öğretmeni tarafından atanmış puanlardan oluşmaktadır. Araştırma sonucunda, ÇDKRÖM ve HPM puanlayıcı parametre sonuçlarının genel olarak benzer olduğu saptanmıştır. Her iki modele ait sapma bilgi kriteri değerlerine göre; HPM’nin ÇDKRÖM’e göre araştırma verilerine daha iyi uyum sağladığı, tek bir maddenin tek bir yanıtına ilişkin atanan çoklu puanlara ait bir yapının HPM'yle daha iyi yansıtıldığı sonucuna ulaşılmıştır.
Keywords : Çok değişkenlik kaynaklı Rasch ölçme modeli, hiyerarşik puanlayıcı modeli, puanlayıcı katılık cömertlik ve değişkenlik parametreleri