Alüminyum Bazlı Alaşımlarda Radyasyon Zayıflama Parametrelerinin Phy-X/PSD ile İncelenmesi

Authors : Reyhan Özaydın Özkara

Pages : 694-704

Doi:10.19113/sdufenbed.1812428

View : 91 | Download : 249

Publication Date : 2025-12-25

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada, farklı ağırlık oranlarına ve 2,66–2,76 g cm⁻³ yoğunluk aralığına sahip yüksek alüminyum içerikli ETİAL serisi alaşımların gama fotonlarıyla etkileşimleri, 10⁻³–10⁵ MeV enerji aralığı boyunca ve seçili foton enerjilerinde (0.059, 0.081, 0.356, 0.662, 1.173 ve 1.332 MeV) Phy-X/PSD yazılımı kullanılarak incelenmiştir. Kütle ve doğrusal zayıflama katsayıları (MAC, LAC), yarı ve ondalık değer kalınlıkları (HVL, TVL), ortalama serbest yol (MFP) ve etkin atom numarası (Zeff) hesaplanmıştır. Düşük enerji aralığında fotoelektrik etkinin baskın hale gelmesi, MAC, LAC ve Zeff değerlerinin artmasına; buna karşın HVL, TVL ve MFP değerlerinin azalmasına neden olmuştur. Orta enerjilerde Compton saçılması hâkim olup, MAC ve LAC azalmış, HVL, TVL ve MFP artmıştır. Yüksek enerjilerde Compton ve çift oluşum süreçleri belirginleşmiş ve parametreler sabitlenmiştir. Seçili enerjilerde yapılan değerlendirmeler, düşük enerjilerde S5 alaşımının (0,059 MeV’de MAC = 0,3489 cm² g-1, LAC = 93,1595 cm⁻¹) en yüksek zırhlama performansına sahip olduğunu, orta ve yüksek enerjilerde ise S2 alaşımının daha dengeli soğurma kapasitesi sunduğunu göstermektedir. Alaşımların bileşimi ve yoğunluğu, gama ışını zayıflatma performansında belirleyici rol oynamaktadır. Bu çalışma, söz konusu alaşımların zayıflatma parametrelerini literatürde sistematik olarak ortaya koyan ilk araştırmadır.
Keywords : Alaşımlar, Radyasyon kalkanlama, Phy-X/PSD, Radyasyon zayıflama parametreleri

ORIGINAL ARTICLE URL