OPTICAL, STRUCTURAL AND MORPHOLOGICAL CHARACTERIZATION OF CuIn0.7Ga0.3(Se0.6Te0.4)2 THİN FILMS UNDER DIFFERENT ANNEALING TEMPERATURES

Authors : Songül FİAT VAROL, Emin BACAKSIZ, Güven ÇANKAYA, Michael KOMPİTSAS

Pages : 9-16

View : 49 | Download : 9

Publication Date : 2015-01-06

Article Type : Research Paper

Abstract :CuIn0.7Ga0.3(Se0.6Te0.4)2 (CIGSeTe) ince filmleri e-demeti ile buharlaştırma sistemi ile elde edildi. Optik ölçümler 300–1200 nm dalgaboyu aralığında alınmıştır. Filmler yüksek soğurma gücüne ve sırasıyla tavlanmamış, 450 o C, 475 o C, 500 o C, ve 525 o C tavlama sıcaklıklarına göre 1.15, 1.12, 1.11, 1.06 ve 1.05 eV band aralıklarına sahiptir. Elde edilen polikristal yapıdaki filmler (1 1 1) baskın yönelimi ile kalkoprit karakteristiği göstermiştir. Se ve Te içeriğinin bir fonksiyonu olarak örgü parametrelerinin lineer bağımlılığı tespit edilmmiştir. Tavlanmamış örneklerin örgü parametreleri a = 6.00 Å ve c = 11.85 Å olarak, 525 o C de tavlanan örneklerin ise a = 6.07 Å and c = 12.09 Å olarak belirlenmiştir. Bileşime bağlı olarak oluşumun yüzey haritası SEM görüntülerinde kompakt ve tanecikli bir yapı sergilemiştir. Ayrıca, AFM görüntüleri de bu daha iyi olan kristalleşmeyi daha büyük taneciklerle ve 12.10 den 14. 82 nm’ye değişen rms pürüzlülük değerleri ile doğrulamaktadır.    
Keywords : CIGS, Optik Karakterizasyon, XRD, AFM, SEM

ORIGINAL ARTICLE URL