Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope Method

Authors : Özge ERKEN, Cebrail GÜMÜŞ

Pages : 141-151

View : 122 | Download : 12

Publication Date : 2018-12-28

Article Type : Research Paper

Abstract :SnO 2 (kalay dioksit) ince film ticari cam alttaban üzerinde 420 o C’de püskürtme tekniği ile depolanmıştır. XRD analizleri SnO 2 ince filmin tetragonal rutil yapıya sahip olduğunu göstermiştir. Filmin optik geçirgenlik değerleri (% T ) görünür bölgede % 80-96 aralığındadır ve son derece şeffaftır. S oğurma katsayıları ( α ) geçirgenlik spektrumundan hesaplanmıştır. Kırılma indisleri ( n ) ve film kalınlığı ( t ) zarf yöntemi kullanılarak optik geçirgenlik eğrisinin girişimlerinden belirlenmiştir. Ultraviyole-görünür-yakın kızılötesi (UV-VIS-NIR) bölgelerinde kırılma indisleri ( n ) 1.83-1.97 aralığında değişmiştir. SnO 2 ince filmin kalınlığı ( t ) ve optik enerji aralığı, sırasıyla 1.22 μ m ve 3.98 eV olarak bulunmuştur.
Keywords : Püskürtme tekniği, Zarf yöntemi, Optik sabitler, Optik sabitler, SnO 2 ince film

ORIGINAL ARTICLE URL