Cu₂ZnSn(S,Se)₄ (CZTSSe) İnce Filminin Sputter Yöntemi ile Büyütülmesi ve Karakterizasyonunun Araştırılması

Authors : Ufuk Yilmaz, Birol Ertuğral, Cevdet Coşkun

Pages : 946-955

Doi:10.53501/rteufemud.1800766

View : 41 | Download : 77

Publication Date : 2025-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada Cu₂ZnSn(S,Se)₄ (CZTSSe) ince filmler, sputter yöntemi ile İTO kaplı cam altlık üzerine büyütülmüş ve sonrasında uygun tavlama işlemi uygulanarak filmlerin kristal yapıları geliştirilmiştir. Sputter yöntemi film kalınlığının kontrol edilebilir olması ve yüksek saflıkta ve homojen yapılı ince filmler elde edilmesine olanak sağlaması nedeniyle tercih edilmiştir. Hazırlanan ince filmlerin yapısal özellikleri X-ışını kırınımı (XRD) ve Raman spektroskopisi, morfolojik özellikleri taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ile elementel bileşimi ise enerji dağılımlı X-ışını spektroskopisi (EDX) yöntemiyle analiz edilmiştir. Elde edilen bulgular, sputter yöntemiyle büyütülen CZTSSe ince filmlerin yüksek derecede kristalleşmiş kesterit yapıda oluştuğunu göstermiştir. Yüzey morfolojisinin homojen, yoğun taneli bir doku sergilediğini ortaya koymuştur. Bu sonuçlar, CZTSSe tabanlı ince filmlerin çevre dostu, düşük maliyetli ve sürdürülebilir fotovoltaik uygulamalarda umut vadedici soğurucu katman olarak değerlendirilebileceğini desteklemektedir.
Keywords : CZTSSe, XRD, AFM, SEM, Raman Spektroskopisi

ORIGINAL ARTICLE URL