- Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
- Volume:18 Issue:3
- Tibia Kırıklarında Kullanılan Kilitli ve Kilitsiz Plak Fiksasyon Sistemlerinin Sonlu Elemanlar Yönte...
Tibia Kırıklarında Kullanılan Kilitli ve Kilitsiz Plak Fiksasyon Sistemlerinin Sonlu Elemanlar Yöntemiyle İncelenmesi
Authors : Hojjat ASL, Halim KOVACI, Akgün AKSARAN, İrfan KAYMAZ, Ayhan ÇELİK, Ömer YILDIRIM
Pages : 167-174
View : 22 | Download : 10
Publication Date : 2015-01-04
Article Type : Research Paper
Abstract :Tibia diafiz kırıklarının tedavisinde plak-vida ile tespit yöntemi sıklıkla kullanılmaktadır. Bununla birlikte, kullanılan implantların tasarımındaki farklılıklar, kullanılan plak-vida sisteminin kilitli veya kilitsiz olması kemikimplant yapılarının biyomekanik davranışını büyük ölçüde etkilemektedir. Bu çalışmada, tibia diafiz kırıklarının tedavisinde kullanılan kilitli ve kilitsiz plakvida fiksasyon yöntemlerinin kemik-implant yapılarında oluşturduğu mekanik etkiler ve iyileşme sürecine olan etkileri sonlu elemanlar yöntemiyle incelenmiştir. Bu amaçla, iki farklı kırık açısı insert ignore into journalissuearticles values(60° ve 90°); ve farklı iyileşme periyotlarında oluşan kallus yapıları da dikkate alınarak kırık tibia 3B insert ignore into journalissuearticles values(üç boyutlu); modelleri oluşturulmuş, plak-vida fiksasyonları gerçekleştirilmiştir. Elde edilen modeller, eksenel kuvvet altında ANSYS 14.0 yazılımı kullanılarak analiz edilmiştir. Gerçekleştirilen analizler sonucunda; kemik-implant yapılarında oluşan gerilmeler ve deplasmanlar bakımından kilitli plak sistemlerinin, kilitsiz plak sistemlerinden daha yüksek stabilizasyon sağladığı belirlenmiştir. Kırık açısının 90° yerine 60° olması durumunda, modellerde oluşan gerilme ve deplasmanların arttığı gözlemlenmiştir. Ayrıca kallus yapısının mekanik özelliklerindeki değişimin, kemik-implant yapısı üzerindeki etkiler bakımından en etkili parametre olduğu sonucuna varılmıştır.Keywords : Kilitli Plak, Kilitsiz Plak, Kallus, Gerilme, Sonlu elemanlar yöntemi