IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Tarım Bilimleri Dergisi
  • Volume:07 Issue:04
  • An Application and Interpretation of the Second Order Response Surface Model

An Application and Interpretation of the Second Order Response Surface Model

Authors : Zahide KOCABAŞ
Pages : 121-128
Doi:10.1501/Tarimbil_0000000698
View : 39 | Download : 12
Publication Date : 2001-11-01
Article Type : Research Paper
Abstract :İkinci derece yan ı t yüzey modellerinin uygulamas ı ve sonuçları n yorumlanmas ı için yapay olarak oluşturulan üç veri kümesi kullan ı lm ışt ı r. Verilerin 3x3 düzeninde tertiplenmi ş iki tekerrürlü bir denemeden topland ığı varsay ı lmışt ı r. Yapay olarak oluşturulan veriler için ikinci derece yan ı t yüzey modeli hesapland ığı zaman VERIMI `deki toplam varyasyonun %95.52`sinin, VER İ M2`deki toplam varyasyonun %83.93`ünün ve VER İ M3`teki toplam varyasyonun %85.41`inin hesaplanan model taraf ı ndan aç ı kland ığı görülmüştür. İ kinci derece modelin uygunluk kontrolünden elde edilen sonuçlar hesaplanan modelin yan ı t yüzeyini tan ı mlamak için yeterli oldu ğunu göstermiştir. Yan ı t yüzeyinin yap ı s ı n ı incelemek için uygulanan kanonik analiz VERIMI için maksimum, VER İ M2 için minimum oldu ğunu göstermi ştir. Buna karşı n VER İ M3 için bir eyer saddle noktas ı hesaplanmışt ı r. Yapay veriler kullan ı ld ı ktan sonra şeker içeriğ ine ait toplanm ış veriler analiz edilmiştir. Şeker içeriği verileri için ikinci derece yan ı t yüzeyi modeli hesapland ığı zaman, şeker içeriğindeki toplam varyasyonun %68.9`unun hesaplanan model taraf ı ndan aç ı kland ığı görülmüştür. İ kinci derece modelin uygunluk kontrolünden elde edilen sonuçlar hesaplanan modelin şeker içeriği için yan ıt yüzeyini tan ı mlamak için yeterli olduğ unu göstermi ştir.Uygulanan kanonik analizde şeker içeri ği için bir eyer saddle nokta hesaplanm ışt ı r.
Keywords : Yan ı t yüzeyleri, ikinci derece model, kritik nokta, eyer noktas ı, maksimum ve minimum nokta

ORIGINAL ARTICLE URL

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2026