Dönel Kaplama Yöntemi ile Üretilen Ag Katkılı CuO İnce Filmlerin Yapısal, Optik ve Morfolojik Özellikleri

Authors : Şilan BATURAY, İlhan CANDAN
Pages : 489-501
Doi:10.53433/yyufbed.1094830
View : 79 | Download : 11
Publication Date : 2022-12-25
Article Type : Research Paper
Abstract :Son yıllarda, bakır insert ignore into journalissuearticles values(II); oksit insert ignore into journalissuearticles values(CuO); ince filmler benzersiz fiziksel ve kimyasal özelliklerinden dolayı araştırmacılardan büyük ilgi görmektedir. Bu çalışmada, gümüş insert ignore into journalissuearticles values(Ag); katkılı bakır oksit ince filmleri, çeşitli katkı oranlarında dönel kaplama tekniği uygulanarak cam alttaş üzerinde üretildi. Farklı gümüş katkısına bağlı olarak hazırlanan ince filmlerin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri sırasıyla X-ışını kırınımmetresi insert ignore into journalissuearticles values(XRD);, taramalı elektron mikroskobu insert ignore into journalissuearticles values(SEM); ve UV-VİS spektrofotometrisi kullanılarak incelenmiştir. Ag katkılı CuO filmlerinin XRD desenleri, tüm ince filmlerin polikristal doğaya sahip tenorite yapılı olduğunu göstermiştir. En belirgin yönelimler için stres, düzlemler arası mesafe, kristal büyüklüğü ve dislokasyon yoğunluğu X-ışını kırınımı analizi kullanılarak hesaplandı. En fazla kristal büyüklüğü değeri insert ignore into journalissuearticles values(111); tercihli yönelimi için katkısız CuO filmine ait olup yüksek kalitede kristalliğe sahip olduğu söylenilebilir. SEM ölçümü, film yüzeylerinde çok küçük bir topaklama ile beraber, ince film yüzeylerinde homojen olarak dağılmış nanoyapı parçacıkların varlığını göstermektedir. SEM görüntülerinin sonucu atomik kuvvet mikroskopu insert ignore into journalissuearticles values(AFM); ile benzer yapıdadır. EDX bağlantılı FEI Quanta 250 FEG taramalı elektron mikroskopu ile filmlerin tabaka kalınlığı yaklaşık olarak 460 nm civarındadır. Ayrıca, elde edilen örneklerin optik özellikleri, UV-VİS spektrofotometrisi kullanılarak bant aralığı ölçümleri, soğurma ve geçirgenlik değerleri türünden analiz edildi. İnce filmlerin ultraviyole-görünür ölçümleri, oda sıcaklığında CuO ince filminin geçirgenlik ve soğurma değerlerinin Ag katkılanma sonucu değiştiği görülmektedir. Aynı şekilde enerji bant aralığı, artan Ag katkı oranına bağlı olarak değişti.
Keywords : Ag, CuO, Spin kaplama, XRD

ORIGINAL ARTICLE URL