X-Işını Difraksiyonu Yöntemi ile Kantitatif Mineral İçeriği Tayini ve Çalışma Şartlarının Etkisi

Authors : Tayfun Yusuf YÜNSEL, Adem ERSOY, Arman EHSANİ

Pages : 16-28

View : 19 | Download : 9

Publication Date : 2019-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :X-ışını difraksiyonu yöntemi, daha çok mineral tanımlaması (kalitatif analiz) için kullanılırken, kantitatif kimyasal analiz için titrasyon, X-Ray Fluressance, Atomik Absorbsiyon Spektrometresi, İndüktif çiftlenmiş plazma kütle spektrometresi gibi yöntemler kullanılmaktadır. Kantitatif analiz yöntemleri, temelde analiz yöntemleri ve sonuçları bakımından benzer olmasına karşın analiz tiplerine göre büyük farklılıklar göstermektedir. X-Işını kırınımı tekniği ile kalitatif yani mineral tanımlama işlemi yapılırken, başka teknikler kullanılarak bu minerallerin kantitatif sonuçları da elde edilebilmektedir. Bu yöntem tercihi, bir numunede belirli bir mineral türünün kantitatif analizinin araştırıldığı çalışmalarda önem arz etmektedir. Örneğin, bir kayaç numunesindeki Silisyum (Si) ve Kuvars (SiO 2 ) oranı birbirinden farklıdır. Çünkü silisyum sadece kuvarstan değil, kayaç içerisindeki diğer silisyum bileşiklerinden de kaynaklanmaktadır. Bir kayaç içerisindeki kuvars miktarı ince kesit veya parlak kesit hazırlanarak Polarize Işık Mikroskobu (PLM) ile tespit edilirken, silisyum içeriği sadece titrasyon (yaş kimyasal analiz) ile tespit edilebilmektedir. Bu nedenle bireysel minerallerin kantitatif analizinde X-Işını kırınımı tekniğinin çok daha etkin sonuçlar vermesi beklenmektedir. Bu çalışmada, bilinen değişik oranlardaki kalsit ve kuvars mineralleri XRD rietveld teknikleri ile tespit edilmiştir. Çalışma sonucunda oldukça iyi değerler elde edilmiş olup, kişisel tecrübenin de yardımı ile bir örnekteki mineral tayinlerinde sağlıklı sonuçlar vereceği görülmüştür.
Keywords : X Işını Kırınımı, Kantitaif Analiz, Mineral Analizi, Kimyasal Analiz