IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Journal of Advanced Research in Natural and Applied Sciences
  • Volume:6 Issue:1
  • Sol-jel Yöntemi ile Kaplanan Nb2O5 İnce Filmlerin Karakterizasyonu

Sol-jel Yöntemi ile Kaplanan Nb2O5 İnce Filmlerin Karakterizasyonu

Authors : Tuğçe ATAŞER
Pages : 49-56
Doi:10.28979/comufbed.595184
View : 15 | Download : 13
Publication Date : 2020-05-22
Article Type : Research Paper
Abstract :Bu çalışmada, hazırlanan niobyum pentoksit insert ignore into journalissuearticles values(Nb2O5); çözeltileri farklı sürelerde ve aynı koşullar altında yaşlandırıldı. Nb2O5 ince filmler, soda kireç cam ve silisyum alttaşlar üzerine aynı koşullar altında döndü-rerek kaplama cihazında sol-jel yöntemi ile kaplandı. Kaplanan Nb2O5 ince filmlerin yapısal ve optik özel-likleri ile yüzey morfolojilerinin çözeltinin yaşlanmasına olan bağımlılığı sırasıyla, X-ışını kırınımı insert ignore into journalissuearticles values(XRD);, ikincil iyon kütle spektrometresi insert ignore into journalissuearticles values(SIMS);, UV-Vis spektrofotometre ve atomik kuvvet mikroskobu insert ignore into journalissuearticles values(AFM); analizleri ile incelendi. XRD sonuçlarından, SG-1 insert ignore into journalissuearticles values(1 gün yaşlandırılan çözelti ile kaplanan film); numunesi-nin kristal yapıya sahip olduğu görüldü ve SG-1 numunesinin tanecik boyutu 46,12 nm olarak hesaplandı. SIMS analizi ile niobyum insert ignore into journalissuearticles values(Nb); ve oksijen insert ignore into journalissuearticles values(O); atomik türlerinin film derinliği boyunca homojen olarak dağıldığı tespit edildi. SG-1 numunesi görünür bölgede %80 civarında geçirgenliğe sahiptir ve soğurma spektrumundan elde edilen yasak enerji aralığı yaklaşık 3,65 eV olarak bulundu. Çözeltilerin yaşlandırılma süreleri artıkça, yansıtma değerleri kullanılarak hesaplanan kırılma indislerinin azaldığı görülmektir. AFM sonuçlarından, 5x5 µm2’lik alanda taranan yüzey görüntülerinden SG-1 numunesinin düzgün yüzey mor-folojisine ve 70 nm tanecik büyüklüğüne sahip olduğu görülmektedir. Ayrıca, AFM görüntülerinden çözelti yaşlandıkça RMS değerlerinin artığı görülmektedir. Elde edilen sonuçlar; Nb2O5 çözeltisinin yaşlandırılma süresinin kaplanan filmlerin yapısal, optik ve yüzey morfolojisini etkilediğini göstermektedir. Kaplanan Nb2O5 ince filmlerin Si temelli güneş hücrelerinde yansıma önleyici tabaka olarak kullanılması önerilmektedir.
Keywords : Nb2O5, ince film, sol jel, döndürerek kaplama, yaşlandırma, yaşlandırma

ORIGINAL ARTICLE URL
VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2025