IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Journal of Naval Sciences and Engineering
  • Volume:16 Issue:1
  • ANNEALING TEMPERATURE EFFECTS ON SURFACE MORPHOLOGY AND OPTICAL PROPERTIES OF IGZO THIN FILMS PRODUC...

ANNEALING TEMPERATURE EFFECTS ON SURFACE MORPHOLOGY AND OPTICAL PROPERTIES OF IGZO THIN FILMS PRODUCED BY THERMAL EVAPORATION

Authors : Atilgan ALTINKÖK, Murat OLUTAŞ
Pages : 25-44
View : 10 | Download : 9
Publication Date : 2020-04-29
Article Type : Research Paper
Abstract :Saydam İletken Oksit insert ignore into journalissuearticles values(TCO); ince filmlerin teknolojide kullanımı son yıllarda artmıştır. Bu malzemeler aynı anda iyi bir elektrik iletkenliğine ve görünür ışık geçirgenliğine sahiptir. TCO`lar, ince film dönüştürücüler insert ignore into journalissuearticles values(TFT`ler);, iletken elektrotlar, kapasitörler, sensörler, elektrokimyasal cihazlar gibi birçok teknoloji uygulamasında kullanılmaktadırlar. İndiyum kalay oksit insert ignore into journalissuearticles values(ITO); bu malzemeler arasında en yaygın kullanılan malzeme olmasına rağmen, daha iyi elektriksel özelliklere insert ignore into journalissuearticles values(elektron hareketliliği µFE>10 cm 2 /V.s); cm 2 / Vs); sahip olan N tipi indiyum-galyum-çinko oksit insert ignore into journalissuearticles values(IGZO); üzerinde yapılan çalışmalar günümüzde önem kazanmıştır. Bu çalışmada, cam alttaş üzerinde termal buharlaştırma sistemi kullanılarak yüksek vakum altında oda sıcaklığında çok homojen bir amorf yapıya sahip IGZO ince filmler üretilmiştir. Üretilen IGZO ince filmlerin yapısal karakterizasyonu ise Atomik kuvvet mikroskobu ve taramalı elektron mikroskobu kullanılarak  çeşitli kalınlık ve tavlama sıcaklıkları için gerçekleştirilmiştir. Geçirgenlik ve kalınlık ölçümleri ise optik özelliklerin araştırılması için sırasıyla UV-VIS spektroskopisi ve profilometre kullanılarak yapılmıştır. Tavlama sıcaklığı arttıkça tanecik boyutunun büyüdüğü ve tane sınırlarının azaldığı görülmektedir. Bu durum, pürüzlülüğün azalmasına ve optik geçirgenliğin ve enerji boşluğunun insert ignore into journalissuearticles values(E g ); artmasına neden olmaktadır.
Keywords : IGZO, AFM, İnce Film, Band Enerjisi

ORIGINAL ARTICLE URL
VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2025