Deposition and Structural Characterization of Sn-Se-Te Thin Films

Home Page
About
Submit A Journal
Submit A Conference
Submit Paper/Book
- Submit a Preprint
- Submit a Book
Contact

Avrupa Bilim ve Teknoloji Dergisi
Issue:14
Deposition and Structural Characterization of Sn-Se-Te Thin Films

Deposition and Structural Characterization of Sn-Se-Te Thin Films

Pages : 343-347

View : 20 | Download : 18

Publication Date : 2018-12-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada Se ve Te değişiminin fiziksel buharlaştırma tekniği (FBT) ile üretilmiş SnSeTe (TSeTe) ince filmlerinin yapısal ve morfolojik özelliklerine etkisi incelenmiştir. Bu filmlerin yapısal ve morfolojik özelliklerini belirlemek için XRD ( X-ışını Kırınım Deseni), SEM( Taramalı Elektron Mikroskobu), EDXA (Enerji Dağılımlı X-ışını Analizi), Raman Analizi ve AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) ölçümleri yapılmıştır. Ardından ısının film özelliklerine etkisini gözlemlemek için üretim sonrası farklı sıcaklıklarda tavlama işlemleri uygulanmıştır.
Keywords : İnce Film, Yapısal Karaterizasyon, Taramalı Elektron Mikroskopu, XRD, Raman Analizi

ORIGINAL ARTICLE URL

VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.