Gümüş Katkılı Bakır(II) Oksit İnce Filmlerin Yüzey Aktif Madde Yardımıyla SILAR Metoduyla Büyütülmesi

Authors : Halit Çavuşoğlu

Pages : 412-419

Doi:10.31590/ejosat.529778

View : 23 | Download : 16

Publication Date : 2019-03-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada, gümüş (Ag) katkılı bakır(II) oksit (CuO) ince filmler, cam yüzeyler üzerinde, oda sıcaklığında bir yüzey aktif maddesi yardımıyla ardışık iyonik tabaka adsorpsiyon ve reaksiyon (SILAR) tekniği ile büyütülmüştür. Farklı konsantrasyonlardaki Ag’nin (0 % ila  3.0 M%) sodyum sitrat yüzey aktif maddesi içeren CuO ince filmlerin yapısal, morfolojik ve optiksel özellikleri üzerindeki etkileri incelenmiştir. Üretilen tüm ince filmlerin yapısal analizi, X-ışını difraktometresi (XRD) ile gerçekleştirilmiştir.  Yapısal analiz sonuçlarına göre, tüm filmlerin çok kristalli bir yapıda ve monoklinik kristal formda olduklarını doğrulamaktadır. Farklı oranlarda katkılanan Ag konsantrasyonlarına bağlı olarak, kristalit büyüklüğü değerleri 14.83 ila 17.09 nm arasında değişmiştir. CuO ince filmlerin yüzey morfolojisi metalurjik mikroskop kullanılarak incelenmiştir. Yüzey çalışmaları CuO nanoyapılarının film yüzeylerinde homojen olarak dağıldığını göstermiştir. Tüm ince filmlerin optik analizleri UV-Vis-NIR spektrofotometresi kullanılarak incelenmiştir. Optiksel analiz sonuçları, CuO ince filmlerin optik bant aralığı enerjilerinin, gümüş konsantrasyonunun  0 M%'den  2.0 M%'ye yükselmesiyle, 1.34 eV’den 1.72 eV'ye yükseldiğini ortaya koymuştur. Gümüş konsantrasyonunun  3.0 M%'ye yükseltilmesiyle, bant aralığı enerjisi 1.68 eV'ye düşmüştür. Tüm filmlerin ortalama geçirgenliği, artan gümüş konsantrasyonu ile 2.0 %'dan  32.5 %'e yükselmiştir.  0000-0002-7215-651X
Keywords : CuO ince film, Katkılama, Yüzey aktif madde, Gümüş