Çok Aşamalı Testlerin Panel Deseni, Modül Uzunluğu, Örneklem Büyüklüğü ve Yetenek Parametresi Kestirim Yöntemleri Açısından Farklı Koşullar Altında Karşılaştırılması

Authors : Serap Büyükkıdık, Fatma Gökçen Ayva Yörü

Pages : 9-27

Doi:10.52597/buje.1329338

View : 36 | Download : 29

Publication Date : 2024-08-31

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu araştırmada çeşitli simülasyon koşullarında çok aşamalı testlerin performansları, hata kareler ortalamasının karekökü (Root Mean Square Error-RMSE), tahminin standart hatası (Standard Error of Estimate-SEE), yanlılık (BIAS) ve ortalama mutlak hata (Mean Absolute Error-MAE) değerlendirme kriterleri açısından karşılaştırılmıştır. Test simülasyonunda panel deseni (1-3, 1-2-3, 1-3-3), modül uzunluğu (6, 12, 18), örneklem büyüklüğü (300, 1000, 3000), yetenek parametresi kestirim yöntemi (beklenen sonsal dağılım [Expected a Posteriori-EAP], maksimum sonsal dağılım [Maximum a Posteriori-MAP] ve sınırlı en çok olabilirlik kestirimi [Maximum Likelihood Estimation with Fences-MLEF]) olmak üzere 81 koşul (3x3x3x3) belirlenmiştir. Araştırma sonucunda RMSE ile MAE değerlerinin genellikle benzer sonuçlar verdiği ve modül uzunluğu arttıkça ölçme doğruluğunun da arttığı bulunmuştur. Ayrıca RMSE, SEE ve MAE’nin 1-3 panel deseninde en yüksek, 1-3-3 deseninde ise en düşük değerleri aldığı saptanmıştır. Araştırmacılara 1-3-3 panel deseninde, en az 12 modül uzunluğunda ve EAP yöntemi kullanarak çalışma yapmaları önerilmektedir.
Keywords : Çok aşamalı test, panel desen, modül uzunluğu, örneklem büyüklüğü, yetenek parametresi kestirim yöntemi

ORIGINAL ARTICLE URL