IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Erzincan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
  • Volume:14 Issue:2
  • Investigation of the Dependence of Ambipolarity on Channel Thickness for TMDC Based Field Effect Tra...

Investigation of the Dependence of Ambipolarity on Channel Thickness for TMDC Based Field Effect Transistors

Authors : Merve ACAR, Mehmet ERTUGRUL
Pages : 825-836
Doi:10.18185/erzifbed.923845
View : 14 | Download : 14
Publication Date : 2021-08-31
Article Type : Research Paper
Abstract :Bu çalışmada ağırlıklı olarak güncel ambipolar alan etkili transistor üzerinde duruldu. Ambipolarite, son yıllarda birçok uygulama için önemli hale geldi. Literatürde ambipolariteye neden olan birçok faktör bildirilmiştir. Bununla birlikte, ambipolaritenin nedenleri literatürde tam olarak araştırılmamıştır. Bu çalışmada, ambipolarite derecesi, WS2 FET cihazı için kanal kalınlığının bir fonksiyonu olarak belirlenmiştir. Kalınlık arttıkça ambipolarite derecesinin sıfıra yaklaştığı görülmüştür. Ambipolarite derecesinin sıfıra yaklaşması, WS2 kanalının doğal n-tipi davranış sergilediğini ve ambipolarite etkisinin ortadan kalktığını gösterir.
Keywords : alan etkili transistör, ambipolarite, TMDC

ORIGINAL ARTICLE URL
VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2025