IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
  • Volume:11 Issue:1
  • To Investigate the Electrochemical Behaviors of Bis-Chalcone Derivatives

To Investigate the Electrochemical Behaviors of Bis-Chalcone Derivatives

Authors : Neslihan NOHUT MAŞLAKCI, Ali KÖMÜR, Abdullah BİÇER, Günseli TURGUT CİN, Ayşegül ÖKSÜZ
Pages : 53-61
Doi:10.29048/makufebed.668313
View : 17 | Download : 10
Publication Date : 2020-06-03
Article Type : Research Paper
Abstract :Bis-kalkon türevleri olarak bilinen insert ignore into journalissuearticles values(2E,5E);-2,5-dibenzilidensiklopentanon insert ignore into journalissuearticles values( P1 ); ve insert ignore into journalissuearticles values(2E,5E);-2,5-bis insert ignore into journalissuearticles values(4-nitrobenziliden); siklopentanonun insert ignore into journalissuearticles values( P2 ); elektrokimyasal davranışı çalışma elektrotu olarak bir indiyum kalay oksit insert ignore into journalissuearticles values(ITO); kullanılarak döngüsel voltametri ile incelenmiştir. Tekrarlanan döngüsel voltammogram ölçümleri bis-kalkon türevleri için mükemmel uzun süreli redoks stabilitesi sergilemiştir. P1 `in 1. döngüsü için anodik bölgedeki oksidasyon piki -0.20 V`de görülürken, P2 `nin oksidasyon piki -0.47 V`de gözlenmiştir. Öte yandan, P2 yapısında benzen halkası üzerinde p -konumunda elektron çekici NO 2 grubunun varlığı, en yüksek dolu moleküler orbital insert ignore into journalissuearticles values(HOMO); ve en düşük boş moleküler orbital insert ignore into journalissuearticles values(LUMO); enerji aralığında bir artışa neden olmuştur. ITO cam substratlar üzerine kaplanan P1 ve P2 filmlerinin yüzey morfolojisi ve yapısal özellikleri, taramalı elektron mikroskopisi insert ignore into journalissuearticles values(SEM); ve enerji dağıtıcı X-ışını spektroskopisi insert ignore into journalissuearticles values(EDS); kullanılarak incelenmiştir. SEM mikrografları, P1 ve P2 `nin ITO yüzeyi üzerinde homojen bir şekilde dağıldığını göstermiştir. CV ölçümünden sonra, P2 `nin tane boyutunun artan ITO yüzey pürüzlülüğü ile arttığı gözlenmiştir. Ayrıca EDS sonuçları, ITO yüzeyi üzerinde P1 ve P2 `nin varlığını doğrulamıştır.
Keywords : Bis kalkon türevleri, döngüsel voltametri, elektrokimya

ORIGINAL ARTICLE URL
VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2025