IAD Index of Academic Documents
  • Home Page
  • About
    • About Izmir Academy Association
    • About IAD Index
    • IAD Team
    • IAD Logos and Links
    • Policies
    • Contact
  • Submit A Journal
  • Submit A Conference
  • Submit Paper/Book
    • Submit a Preprint
    • Submit a Book
  • Contact
  • Nevşehir Bilim ve Teknoloji Dergisi
  • Volume:3 Issue:1
  • CdS:In Filmlerinin Optik, Yüzey ve Elektrik Özellikleri Üzerine Isıl Tavlamanın Etkisi

CdS:In Filmlerinin Optik, Yüzey ve Elektrik Özellikleri Üzerine Isıl Tavlamanın Etkisi

Authors : Seniye KARAKAYA
Pages : 1-7
Doi:10.17100/nevbiltek.210910
View : 18 | Download : 16
Publication Date : 2014-07-07
Article Type : Other Papers
Abstract :II-VI grup bileşiklerinden olan CdS, fotovoltaik güneş pillerinde pencere materyali olarak kullanılmaktadır. Güneş enerjsi tükenmez yenilenebilir enerji kaynağıdır. Güneş pilleri mevcut olan bu sınırsız enerjiyi fotovoltaik etkiyle doğrudan elektriğe dönüştürmektedir. Bu çalışmada, fotovoltaik güneş pillerinde kullanılabilen In katkılı CdS filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme insert ignore into journalissuearticles values(UKP); tekniği kullanılarak üretilmiştir. Çöktürme işlemi 300±5 ◦C taban sıcaklığında gerçekleştirilmiştir. Elde edilen filmler, farklı sıcaklıklarda ısıl tavlama işlemine tabi tutulmuştur. Filmlerin optik, elektrik ve yüzey özellikleri üzerine farklı tavlama sıcaklıklarının etkisi araştırılmıştır. Filmlerin geçirgenlik ve soğurma spektrumları UV-Vis spektrofotometre ile alınmıştır. Filmlerin bant aralığı değerleri görünür bölgedeki soğurma spektrumu ölçümlerinden elde edilmiştir. Optik band aralığı değerleri 2.11-2.32 eV aralığındadır. Spektroskopik elipsometri insert ignore into journalissuearticles values(SE); tekniği kullanılarak filmlerin kalınlıkları ve optik parametreleri insert ignore into journalissuearticles values(kırılma indisi ve sönüm katsayısı); belirlenmiştir. Filmlerin pürüzlülük ve yüzey topografisi üzerine tavlama sıcaklığının etkisini görmek için atomik kuvvet mikroskobu insert ignore into journalissuearticles values(AKM); görüntüleri alınmıştır. Filmlerin elektriksel özdirenç değerleri dört uç tekniği kullanılarak belirlenmiştir. 
Keywords : II VI grup bileşikleri, CdS In, Ultrasonik Kimyasal Püskürtme Tekniği, Isıl Tavlama

ORIGINAL ARTICLE URL
VIEW PAPER (PDF)

* There may have been changes in the journal, article,conference, book, preprint etc. informations. Therefore, it would be appropriate to follow the information on the official page of the source. The information here is shared for informational purposes. IAD is not responsible for incorrect or missing information.


Index of Academic Documents
İzmir Academy Association
CopyRight © 2023-2025